| Title |
Speklų interferometrija: mikrodeformacijų matavimas in situ |
| Authors |
Tamulevičius, S ; Augulis, L ; Augulis, R ; Zabarskas, V ; Valeika, A ; Bataitis, V |
| ISBN |
9986479622 |
| Full Text |
|
| Is Part of |
Lietuviškas spalvinis kineskopas: konstrukcija, technologija, kokybė : 9-osios AB "Ekranas" mokslinės-techninės konferencijos medžiaga, Panevėžys 1999 m. gruodžio 16 d... Vilnius : Mokslo aidai, 2000. p. 39-55.. ISBN 9986479622 |
| Published |
Vilnius : Mokslo aidai, 2000 |
| Type |
Conference paper |
| Language |
Lithuanian |
| Publication date |
2000 |
